1樓：中圖儀器
sj6000鐳射干涉儀主要應用如下：
1. 具有實現線性、角度、直線度、垂直度等幾何量的檢測功能。可以檢測數控機床、三座標測量機等精密運動裝置運動導軌的線性定位精度、重複定位精度等；同時也能檢測運動導軌的俯仰角、扭擺角、垂直度和直線度；並可以校準機床的迴轉軸。
2. 可根據使用者設定的補償方式自動生成誤差補償表，滿足機床誤差修正的要求。
3. 具有動態測量（位移-時間曲線、速度-時間曲線、加速度-時間曲線）及測量振幅和頻率分析的功能，可進行機床振動測量與分析，滾珠絲桿的動態特性分析，驅動系統的響應特性分析，導軌的動態特性分析等。
4. 內建國內外通用的標準，如國標（gb）、iso（國際）、bs（英制）、美標、din（德標）、jis（日標）等。可依據各種不同的機床標準分析處理資料，並可列印相應的曲線圖和資料包告。
2樓：渣攻光
（1）幾何精度檢測 可用於檢測直線度、垂直度、俯仰與偏擺、平面度、平行度等。
（2）位置精度的檢測及其自動補償 可檢測數控機床定位精度、重複定位精度、微量位移精度等。利用雷尼紹ml10鐳射干涉儀不僅能自動測量機器的誤差，而且還能通過rs232介面自動對其線性誤差進行補償，比通常的補償方法節省了大量時間，並且避免了手工計算和手動數控鍵入而引起的操作者誤差，同時可最大限度地選用被測軸上的補償點數，使機床達到最佳精度，另外操作者無需具有機床引數及補償方法的知識。
（3）數控轉檯分度精度的檢測及其自動補償 現在，利用ml10鐳射干涉儀加上rx10轉檯基準還能進行迴轉軸的自動測量。它可對任意角度位置，以任意角度間隔進行全自動測量，其精度達±1。新的國際標準已推薦使用該項新技術。
它比傳統用自準直儀和多面體的方法不僅節約了大量的測量時間，而且還得到完整的迴轉軸精度曲線，知曉其精度的每一細節，並給出按相關標準處理的統計結果。
（4）雙軸定位精度的檢測及其自動補償 雷尼紹雙鐳射干涉儀系統可同步測量大型龍門移動式數控機床，由雙伺服驅動某一軸向運動的定位精度，而且還能通過rs232介面，自動對兩軸線性誤差分別進行補償。
（5）數控機床動態效能檢測 利用renishaw動態特性測量與評估軟體，可用鐳射干涉儀進行機床振動測試與分析（fft），滾珠絲槓的動態特性分析，伺服驅動系統的響應特性分析，導軌的動態特性（低速爬行）分析等。
3樓：清楓尚
鐳射干涉儀可應用於數控機床、三座標測量機等精密運動裝置運動導軌的線性定位精度、重複定位精度等，同時也能檢測運動導軌的俯仰角、扭擺角、垂直度、和直線度，並可以校準機床的迴轉軸。sj6000鐳射干涉儀結合線性鏡組能實現精度的線性測量，結合相應鏡組還能實現角度、直線度（平行度）、平面度、垂直度、迴轉軸等引數的測量，並進行動態分析。
4樓：陌灬雁丘
鐳射干涉儀具有測量精度高、測量速度快、測量範圍大、分辨力高等優點。鐳射干涉儀是目前公認的高精度、高靈敏度的檢測手段，通過與不同的光學元件結合，可以實現對線性、角度、平面度、直線度（平行度）、垂直度、迴轉軸等引數的精密測量，並能對裝置進行速度、加速度、頻率-振幅、時間-位移等動態效能分析。在相關檢測軟體的配合下，可自動生成誤差補償方案，為裝置誤差修正提供依據。
鐳射干涉儀採用美國進口高穩定氦氖鐳射器、鐳射雙縱模熱穩頻技術，實現快速、高精度(抗干擾能力強、長期穩定性好的鐳射輸出；採用高精度環境補償模組、高精度鐳射干涉訊號處理系統、高效能運算機控制系統技術，結合線性鏡組能實現精度的線性測量；結合相應鏡組還能實現角度、直線度（平行度）、平面度、垂直度、迴轉軸等引數的測量，並進行動態分析。
如何測量干涉儀？
什麼是鐳射干涉儀
5樓：深圳中圖儀器
鐳射干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至國家標準，是迄今公認的高精度、高靈敏度的測量儀器，在高階製造領域應用廣泛。
sj6000鐳射干涉儀具有測量精度高、測量範圍大、測量速度快、最高測速下解析度高等優點，結合不同的光學鏡組，可實現線性測長、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何參量的高精度測量。在sj6000鐳射干涉儀動態測量軟體配合下，可實現線性位移、角度和直線度的動態測量與效能檢測，以及進行位移、速度、加速度、振幅與頻率的動態分析，如振動分析、絲桿導軌的動態特性分析、驅動系統的響應特性分析等。
鐳射干涉儀是用以測量含有運動導軌如機床、三座標、直線電機、自動化裝置機器人等的運動精度，並可以對其運動導軌的精度誤差進行補償。
6樓：衣羊小小
鐳射干涉儀，關鍵字是鐳射和干涉。
干涉（interference）是兩列或兩列以上的波在空間中重疊時發生疊加從而形成新的波形的現象。對光源有一定的要求，而鐳射的三個特效能夠較好的發生干涉。
所以就出現了用鐳射干涉實現某種應用的儀器。
一般性應用都是測面型，距離，速度等。
因為兩束滿足特定要求的鐳射能夠產生干涉條紋，而兩束光的相差導致干涉條紋的能量分佈發生變化。通過採集干涉條紋的能量，反計算相差從而計算出被測物的區域性面型變化，或者位置變化。
具體分類可分單頻和雙頻鐳射干涉儀。常見的光路基本結構有傅立葉，法波等，基本上就是雙光束干涉或者多光束干涉原理。以上為本人淺見。。
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