SEM與TEM的區別,TEM和SEM有什麼區別?

時間 2021-09-02 05:35:05

1樓:小談說劇

一、性質不同

1、sem:根據使用者使用搜尋引擎的方式利用使用者檢索資訊的機會儘可能將營銷資訊傳遞給目標使用者。

2、tem:把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產生立體角散射。

二、原理不同

1、tem

(1)吸收像:當電子被髮射到高質量和高密度的樣品時,主要的相位形成是散射。當樣品的質量和厚度較大時,電子的散射角較大,通過的電子較小,影象的亮度較暗。

早期透射電子顯微鏡(tem)就是基於這一原理。

(2)衍射像:電子束被樣品衍射後,樣品不同位置的衍射波振幅分佈對應於樣品中晶體各部分的不同衍射能力。當出現晶體缺陷時,缺陷部分的衍射能力與整個區域的衍射能力不同,使得衍射波的振幅分佈不均勻,反映了晶體缺陷的分佈。

2、sem

(1)使用者搜尋;

(2)返回結果;

(3)檢視結果;

(5)瀏覽**;

(6)諮詢搜尋。

2樓:清流異域

sem,全稱為掃描電子顯微鏡,又稱掃描電鏡,英文名scanning electronic microscopy. tem,全稱為透射電子顯微鏡,又稱透射電鏡,英文名transmission electron microscope.

區別:sem的樣品中被激發出來的二次電子和背散射電子被收集而成像. tem可以表徵樣品的質厚襯度,也可以表徵樣品的內部晶格結構。tem的解析度比sem要高一些。

sem樣品要求不算嚴苛,而tem樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下,一般做成直徑3mm的片,然後去做離子減薄,或雙噴(或者有厚度為20~40μm或者更少的薄區要求)。

tem可以標定晶格常數,從而確定物相結構;sem主要可以標定某一處的元素含量,但無法準確測定結構。

3樓:匿名使用者

sem是掃描電鏡,所加電壓比較低,只是掃描用的,相當於高倍的顯微鏡tem是透射電鏡,所加電壓高,可以打透樣品,觀察內部結構stem是掃描透射,是掃描電鏡裡面的一個功能,可以說是山寨版的temstm是掃描隧道顯微鏡,具體功能不太清楚了。

tem和sem有什麼區別?

4樓:猴滓形

透射電鏡(tem)的放大倍數要比掃描電鏡(sem)的高,當然兩則的成像原理也是不同的,如果需要觀察奈米顆粒在聚合物中的分散情況,你就必須要用tem來觀察了,sem通常看材料的缺口斷面,當然還有許多其他應用。

sem是電子束激發出表面次級電子,而tem是穿透試樣,而電子束穿透能力很弱,所以tem樣品要求很薄,只有幾十nm, tem一般放大能達幾百w倍,而sem只有幾萬倍.

掃描電鏡通常用在一些斷口觀察分析,外加一個能譜儀,可以進行能譜掃描.其放大倍數相對較低,操作方便,樣品製作簡單,對於高聚物,須進行噴金處理 tem則可以**樣品的內部結構,粒子的分散等.其放大倍數高於sem,但也不是絕對,現在有些掃描電鏡的放大倍數也可以很高.

其操作較複雜,樣品製作也較為煩瑣

tem和sem的工作原理差別?

5樓:勤奮的花大喵

掃描電子顯微鏡 sem(scanning electron microscope) 工作原理:

2023年發明的較現代的細胞生物學研究工具,主要是利用二次電子訊號成像來觀察樣品的表面形態,即用極狹窄的電子束去掃描樣品,通過電子束與樣品的相互作用產生各種效應,其中主要是樣品的二次電子發射。二次電子能夠產生樣品表面放大的形貌像,這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的,即使用逐點成像的方法獲得放大像。

透射電鏡tem (transmission electron microscope)工作原理:

是以電子束透過樣品經過聚焦與放大後所產生的物像, 投射到熒光屏上或照相底片上進行觀察。

一、掃描電子顯微鏡 sem(scanning electron microscope)的製造依據

掃描電子顯微鏡的製造是依據電子與物質的相互作用。當一束高能的人射電子轟擊物質表面時,被激發的區域將產生二次電子、俄歇電子、特徵x射線和連續譜x射線、背散射電子、透射電子,以及在可見、紫外、紅外光區域產生的電磁輻射。

同時,也可產生電子-空穴對、晶格振動 (聲子)、電子振盪 (等離子體)。原則上講,利用電子和物質的相互作用,可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質的資訊,如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內部電場或磁場等等。

掃描電子顯微鏡正是根據上述不同資訊產生的機理,採用不同的資訊檢測器,使選擇檢測得以實現。如對二次電子、背散射電子的採集,可得到有關物質微觀形貌的資訊;對x射線的採集,可得到物質化學成分的資訊。正因如此,根據不同需求,可製造出功能配置不同的掃描電子顯微鏡。

二、透射電鏡tem (transmission electron microscope)的製造依據

透射電鏡的解析度為0.1~0.2nm,放大倍數為幾萬~幾十萬倍。由於電子易散射或被物體吸收,故穿透力低,必須製備更薄的超薄切片(通常為50~100nm)。

其製備過程與石蠟切片相似,但要求極嚴格。要在機體死亡後的數分鐘釣取材,組織塊要小(1立方毫米以內),常用戊二醛和餓酸進行雙重固定樹脂包埋,用特製的超薄切片機(ultramicrotome)切成超薄切片,再經醋酸鈾和檸檬酸鉛等進行電子染色。

電子束投射到樣品時,可隨組織構成成分的密度不同而發生相應的電子發射,如電子束投射到質量大的結構時,電子被散射的多,因此投射到熒光屏上的電子少而呈暗像,電子**上則呈黑色。稱電子密度高(electron dense)。反之,則稱為電子密度低(electron lucent)。

6樓:清流異域

sem,全稱為掃描電子顯微鏡,又稱掃描電鏡,英文名scanning electronic microscopy. tem,全稱為透射電子顯微鏡,又稱透射電鏡,英文名transmission electron microscope.

區別:sem的樣品中被激發出來的二次電子和背散射電子被收集而成像. tem可以表徵樣品的質厚襯度,也可以表徵樣品的內部晶格結構。tem的解析度比sem要高一些。

sem樣品要求不算嚴苛,而tem樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下,一般做成直徑3mm的片,然後去做離子減薄,或雙噴(或者有厚度為20~40μm或者更少的薄區要求)。

tem可以標定晶格常數,從而確定物相結構;sem主要可以標定某一處的元素含量,但無法準確測定結構。

7樓:夏雨後的小彩虹

sem是掃描電鏡,所加電壓比較低,只是掃描用的,相當於高倍的顯微鏡tem是透射電鏡,所加電壓高,可以打透樣品,觀察內部結構stem是掃描透射,是掃描電鏡裡面的一個功能,可以說是山寨版的temstm是掃描隧道顯微鏡,具體功能不太清楚了。

SEM和TEM區別,SEM與TEM的區別

掃描電子顯微鏡 sem scanning electron microscope 透射電鏡tem transmission electron microscope 掃描電子顯微鏡 是1965年發明的較現代的細胞生物學研究工具,主要是利用二次電子訊號成像來觀察樣品的表面形態,即用極狹窄的電子束去掃描樣...

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