晶片製造面臨哪些難題，晶片測試的面臨問題

1樓：廣西師範大學出版社

按照摩爾法則，10年後的電腦晶片每秒鐘能完成10000億次運算。但如果繼續沿用現在的設計技術製造這樣的電腦晶片，它散發的熱量將不亞於一座核電廠。而我們知道，電腦必須有良好的散熱裝置，否則就會經常宕機，嚴重的還會把電腦燒壞。

在「核電廠」這樣的環境中，怎麼可能使用電腦呢?因此，在獲得高速度的同時，如何限制晶片的功率，就成為第一堵橫在路上的牆。

把電腦晶片的功率限定在一個額定單位裡，絕不是件容易的事情。因為電晶體的體積極其微小，要想同時實現高速度和低功率，就要降低功率，就必須進行技術創新。現在，科學家已經研究出了一些比較有效的方法。

由此可見，這個問題似乎還不是最難應付的。

對晶片設計人員來說，最主要的問題，還是如何縮小晶片的體積。摩爾法則之所以成立，主要是因為隨著技術的進步，電晶體的體積在不斷縮小，這樣便可以在一枚矽片上整合更多數量的電晶體，提高資訊傳遞的速度，計算機的工作能力也就由此增強了。

但是，電晶體數量的增加，意味著矽片空間的縮小和熱量的增加。設計工作也因此變得日益複雜起來。目前的情況，已經像要往一個針尖上塞進越來越多的人——樣困難。

我國半導體行業背後正在面臨著哪些問題呢？

2樓：奔跑的星球追夢人

面臨著一些製造上的突破。

我國在半導體的設計方面已經實現了突破，有些設計和研發幾乎已經達到了先進的水平，而我國在一些半導體晶片的製造上卻存在一些不足，我國自己的晶片製造廠商依靠自己的技術實現的晶片製造比世界上最先進的水平相比還差好幾個檔次。

所以這個就是我們目前面臨的很大的問題，在半導體晶片的製造上沒有自己的裝置，所以這個是我們目前需要亟待解決的問題。

當我們遇到問題也是一件好事，這也讓我們看到了我們存在的不足，這個時候我們明白了我們應該做什麼，有一個實現的目標，這就是很好的。對未來我國半導體的發展我們始終持積極的態度，任何苦難始終是難不倒自強不息的中國人民的，相信很快，在各種政策的扶持下，我們的半導體行業會很快發展起來。

3樓：

大家都知道最近我國的半導體行業遭受到美國的限制，所以打造我國的半導體迫在眉睫。因為我國的半導體行業起步比較晚，技術等領域還與半導體強國有著巨大的差異，主要體現在，技術不成熟、製造水平不高等方面。

4樓：紙飛機去到遙遠

我國半導體行業目前正處於起步階段，首先是材料方面的制約，能夠用作半導體的材料不多且**昂貴；其次是半導體處理技術包括光刻機等，限制了半導體在晶片上的應用。

5樓：jhering小小志

1、製造問題，半導體行業對一個國家的製造業要求特別高，我國工業化起步較晚，完整的半導體制造流程尚需完善；2、基礎建造能力薄弱。

6樓：顧行者

我國在半導體晶片的製造上存在一些不足，還有是在半導體晶片的製造上沒有自己的裝置。但是在各種政策的扶持下相信很快，我們的半導體行業會很快發展起來的。

7樓：生活與時事

一、製造問題。缺乏自主研究的裝置，缺少光刻機。

二、技術問題。我國這個行業起步晚，與世界先進水平還有很大的差距。

三、材料問題。晶片材料**昂貴而且不多。

晶片測試的面臨問題

8樓：人生如夢

此外，測試軟體也面臨著深亞微米工藝和頻率不斷提高所帶來的新的測試問題。過去測試靜態阻塞故障的atpg測試模式已不再適用，在傳統工具上新增功能模式卻難以發現新的故障。較好的方式是，對過去的功能模式組進行分類以判斷哪些故障無法檢測，然後建立atpg模式來捕獲這些遺漏的故障型別。

隨著設計容量的增大以及每個電晶體測試時間的縮短，為了找到與速度相關的問題並驗證電路時序，必須採用同步測試方法。同步測試必須結合多種故障模型，包括瞬變模型、路徑延遲和iddq。

業界一些公司認為，將阻塞故障、功能性故障以及瞬變/路徑延遲故障結合起來也許是最為有效的測試策略。對深亞微米晶片和高頻率工作方式，瞬變和路徑延遲測試則更為重要。

要解決同步測試核心時的ate精度問題，並降低成本，就必須找到一種新的方法，這種方法能簡化測試裝置的介面 (瞬變和路徑延遲測試要求測試裝置介面處時鐘準確)，同時能保證測試期間訊號有足夠的精確度。

由於soc記憶體塊中極有可能存在製造缺陷，因此儲存器bist必須具備診斷功能，一旦發現問題，存在缺陷的地址單元就可以對映到備用地址單元的冗餘記憶體，檢測出的故障地址將放棄不用，避免捨棄整個昂貴的晶片。

對小型嵌入式記憶體塊進行測試，無需另加閘電路或控制邏輯。例如，向量轉換測試技術可將功能模式轉換為一系列的掃描模式。

與bist方法不同，旁路記憶體塊的功能輸入不需要額外的邏輯電路。由於不需要額外的測試邏輯，soc開發工程師可複用過去形成的測試模式。

高階atpg工具不僅能並行測試巨集而且能夠確定是否存在衝突，以及詳細說明哪些巨集可並行測試，哪些巨集為什麼不可以並行測試。此外，即使巨集時鐘與掃描時鐘相同(如同步儲存器)，這些巨集也可得到有效測試。