1樓：匿名使用者
cpk要達到1.33，要知道理論上的公差還需要知道製程精密度cp，製程精確度ca，以及原公差t分別都是多少，有了以上資料後才可以根據以下理**式來推算：
理**式如下：
ca ＝( 平均數－sc)/(t/2)
cp ＝t/6方差
cpk ＝(1-icai)cp
在資訊保安領域，cpk是「combined public key」的縮寫，即中文名為組合公鑰，是一種加密演算法，以很小的資源，生成大規模金鑰。
cpk組合私鑰csk是標識私鑰isk和分割私鑰ssk相加而成，分割私鑰序列是亂數序列，用於對標識私鑰的加密。因為標識私鑰是組合矩陣變數的線性組合，只有消除分割私鑰的影響，才能暴露標識金鑰的線性方程。消除分割私鑰的辦法是尋找分割私鑰的重複。
設組合矩陣變數的總量為n1，分割私鑰變數的總量為n2。因為標識金鑰方程組的秩為n1-1，要列n1個聯立方程，至少要獲得n1個重複。假設使用者量為n1*n2，分割私鑰重複的概率為n1次，那麼可以找到n1個重複，但是：
a) 在這些重複中，只有參與共謀的才有私鑰，可以列出方程，而沒有參與共謀的，即使找到了重複，也因為沒有私鑰，所以列不出方程，因而沒有意義。
b) 在消除分割私鑰影響以後的組合私鑰的線性方程中，又只有線性無關方程才有意義，而線性相關方程沒有意義。
當n1*n2個使用者全體參與共謀的情況下，n1個方程恰好滿秩的可能性幾乎等於零，顯然方程不可能有唯一解，私鑰的組合矩陣仍然是安全的。
標識金鑰的計算
標識私鑰(isk)的計算在kmc進行。設第i列所用行座標用wi表示，令標識私鑰為isk，那麼私鑰以有限域域fp上的倍數加法實現，實體alice的私鑰為：
公鑰計算以橢圓曲線e上的倍點加法實現，對應公鑰為：
分割金鑰
分割金鑰由ys序列中的w33,w34指示，從分割金鑰序列中選取，並只以公鑰形式存在，分割公鑰序列spki可以檔案形式公佈，或記入cpk-card。
組合金鑰
標識金鑰和分割金鑰複合形成組合金鑰。設分割私鑰為ssk，實體alice的組合私鑰cskalice由kmc計算：
cskalice = (iskalice +sskalice)mod n
將組合私鑰cskalice記入alice的cpk-card並刪除分割私鑰sskalice。
組合公鑰由各依賴方計算：
cpkalice=ipkalice+spkalice；
2樓：
cpk 達1.33 代表產品良率為：99.73%，意味著公差要放鬆3σ，你只需計算出σ, 再把標準值加減3σ，即為公差範圍
3樓：彭成強
你的製程精密度cp,製程精確度ca,以及原公差t分別都是多少，沒有具體的資料怎麼幫你算。
理**式如下：
ca ＝( 平均數－sc)/(t/2)
cp ＝t/6方差
cpk ＝(1-icai)cp
4樓：匿名使用者
你的問題應該是想知道cpk1.33，過程控制應該在什麼範圍內。
cpk=1.33，是3西格瑪的水平，收縮公差25%做吧。
cpk1.33換算成公差的話應該是偏差多少？
5樓：匿名使用者
cpk——過程能力指數
cpk= min[ (usl- mu)/3s, (mu - lsl)/3s]
cpk應用講議
1. cpk的中文定義為：製程能力指數，是某個工程或製程水準的量化反應，也是工程評估的一類指標。
2. 同cpk息息相關的兩個引數：ca , cp.
ca: 製程準確度。 cp: 製程精密度。
3. cpk, ca, cp三者的關係： cpk = cp * ( 1 - ｜ca｜)，cpk是ca及cp兩者的中和反應，ca反應的是位置關係(集中趨勢)，cp反應的是散佈關係(離散趨勢)
4. 當選擇製程站別用cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。
5. 計算取樣資料至少應有20~25組資料，方具有一定代表性。
6. 計算cpk除收集取樣資料外，還應知曉該品質特性的規格上下限(usl，lsl)，才可順利計算其值。
7. 首先可用excel的「stdev」函式自動計算所取樣資料的標準差(σ)，再計算出規格公差(t)，及規格中心值(u). 規格公差＝規格上限－規格下限；規格中心值＝（規格上限+規格下限）/2；
8. 依據公式： ， 計算出製程準確度：ca值
9. 依據公式：cp = ， 計算出製程精密度：cp值
10. 依據公式：cpk=cp ， 計算出製程能力指數：cpk值
11. cpk的評級標準：（可據此標準對計算出之製程能力指數做相應對策）
a++級 cpk≥2.0 特優 可考慮成本的降低
a+ 級 2.0 ＞ cpk ≥ 1.67 優 應當保持之
a 級 1.67 ＞ cpk ≥ 1.33 良 能力良好，狀態穩定，但應盡力提升為a＋級
b 級 1.33 ＞ cpk ≥ 1.0 一般 狀態一般，製程因素稍有變異即有產生不良的危險，應利用各種資源及方法將其提升為 a級
c 級 1.0 ＞ cpk ≥ 0.67 差 製程不良較多，必須提升其能力
d 級 0.67 ＞ cpk 不可接受 其能力太差，應考慮重新整改設計製程。
只能找到這些了
6樓：被深殤的雲
cpk推算建立在穩定過程，按照cpk要求收集資料，計算過程均值及標準差。
cpk=1.33=4/3
cpk=cp（1-ca）
ca為規格中心與實際測量平均值的偏移係數
要進行推算，理論值，假設ca=0
cpk＝cp＝（規格上限－規格下限）／（6＊標準差）=1.33=4/3
規格上限-規格下限=8倍標準差（標準差可以由取樣資料計算得出）公差為4倍標準差
7樓：精品diy生活
cpk1.33換算成公差，還要知道製程精密度cp，製程精確度ca，以及原公差t。理**式如下：
ca ＝( 平均數－sc)/(t/2)
cp ＝t/6方差
cpk ＝(1-icai)cp
1. cpk的中文定義為：製程能力指數，是某個工程或製程水準的量化反應，也是工程評估的一類指標。
2. 同cpk息息相關的兩個引數：ca , cp.
ca: 製程準確度。 cp: 製程精密度。
3. cpk, ca, cp三者的關係： cpk = cp * ( 1 - ｜ca｜)，cpk是ca及cp兩者的中和反應，ca反應的是位置關係(集中趨勢)，cp反應的是散佈關係(離散趨勢)
4. 當選擇製程站別用cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。
5. 計算取樣資料至少應有20~25組資料，方具有一定代表性。
6. 計算cpk除收集取樣資料外，還應知曉該品質特性的規格上下限(usl，lsl)，才可順利計算其值。
7. 首先可用excel的「stdev」函式自動計算所取樣資料的標準差(σ)，再計算出規格公差(t)，及規格中心值(u). 規格公差＝規格上限－規格下限；規格中心值＝（規格上限+規格下限）/2；
8. 依據公式： ， 計算出製程準確度：ca值
9. 依據公式：cp = ， 計算出製程精密度：cp值
10. 依據公式：cpk=cp ， 計算出製程能力指數：cpk值
11. cpk的評級標準：（可據此標準對計算出之製程能力指數做相應對策）
a++級 cpk≥2.0 特優 可考慮成本的降低
a+ 級 2.0 ＞ cpk ≥ 1.67 優 應當保持之
a 級 1.67 ＞ cpk ≥ 1.33 良 能力良好，狀態穩定，但應盡力提升為a＋級
b 級 1.33 ＞ cpk ≥ 1.0 一般 狀態一般，製程因素稍有變異即有產生不良的危險，應利用各種資源及方法將其提升為 a級
c 級 1.0 ＞ cpk ≥ 0.67 差 製程不良較多，必須提升其能力
d 級 0.67 ＞ cpk 不可接受 其能力太差，應考慮重新整改設計製程。
公差怎樣設定才可以cpk達1.33以上啊？
8樓：
不斷把相關資料代入公式，計算，過程中用excel表調整資料（不斷調整相關引數，得不同得cpk值），看什麼條件才能達到客戶得要求
cpk：complex process capability index 的縮寫，是現代企業用於表示製成能力的指標。
cpk值越大表示品質越佳。
cpk=min（（x-lsl/3s），（usl-x/3s））
cpk——過程能力指數
cpk=﹛公差-2*(製程中心-規格中心)﹜/6δ
δ=r平均值除2.33(2.33是通用常數)
cpk應用講議
1. cpk的中文定義為：製程能力指數，是某個工程或製程水準的量化反應，也是工程評估的一類指標。
2. 同cpk息息相關的兩個引數：ca , cp.
ca: 製程準確度。 cp: 製程精密度。
3. cpk, ca, cp三者的關係： cpk = cp * ( 1 - ｜ca｜)，cpk是ca及cp兩者的中和反應，ca反應的是位置關係(集中趨勢)，cp反應的是散佈關係(離散趨勢)
4. 當選擇製程站別用cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。
5. 計算取樣資料至少應有20~25組資料，方具有一定代表性。
6. 計算cpk除收集取樣資料外，還應知曉該品質特性的規格上下限(usl，lsl)，才可順利計算其值。
7. 首先可用excel的「stdev」函式自動計算所取樣資料的標準差(σ)，再計算出規格公差(t)，及規格中心值(u). 規格公差＝規格上限－規格下限；規格中心值＝（規格上限+規格下限）/2；
8. 依據公式計算出製程準確度：ca值
9. 依據公式：計算出製程精密度：cp值
10. 依據公式：cpk=cp ， 計算出製程能力指數：cpk值
11. cpk的評級標準：（可據此標準對計算出之製程能力指數做相應對策）
a++級 cpk≥2.0 特優 可考慮成本的降低
a+ 級 2.0 ＞ cpk ≥ 1.67 優 應當保持之
a 級 1.67 ＞ cpk ≥ 1.33 良 能力良好，狀態穩定，但應盡力提升為a＋級
b 級 1.33 ＞ cpk ≥ 1.0 一般 狀態一般，製程因素稍有變異即有產生不良的危險，應利用各種資源及方法將其提升為 a級
c 級 1.0 ＞ cpk ≥ 0.67 差 製程不良較多，必須提升其能力
d 級 0.67 ＞ cpk 不可接受 其能力太差，應考慮重新整改設計製程。
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